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吉時利Keithley 4200A-SCS參數分析儀加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內*性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量。
吉時利Keithley 4200A-SCS參數分析儀特點：
大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業知識（業界*）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。
?簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。
?4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
吉時利Keithley 4200A-SCS參數分析儀參數：
直流電流-電壓(I-V) 范圍 10 aA - 1A 0.2 µV - 210 V
電容-電壓(C-V) 范圍 1 kHz - 10 MHz ± 30V 直流偏置
脈沖 I-V范圍 ±40 V (80 V p-p)，±800 mA 200 MSa/s，5 ns 采樣率
1.型號：4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件
210V/100mA，0.1 fA 分辨率
對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
2.型號：4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件
210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
3.型號：4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件
210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4.4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件
用于使用 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：
